[发明专利]电路设计的覆盖率分析方法及系统在审

专利信息
申请号: 202210336777.X 申请日: 2022-03-31
公开(公告)号: CN116933724A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 万泉;黄松 申请(专利权)人: 苏州旗芯微半导体有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398;G06F11/36
代理公司: 南京艾普利德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32297 代理人: 陆明耀
地址: 215000 江苏省苏州市虎丘区高*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供了一种电路设计的覆盖率分析方法及系统,所述方法包括:步骤一,针对设计文件,提取抽象描述文件和断言文件;步骤二,针对所述断言文件进行形式验证,确定所有未覆盖的断言,形成不可覆盖列表;步骤三,基于所述抽象描述文件对所述不可覆盖列表进行逻辑分析,找到不可覆盖的原因,形成报告文件。本发明所述电路设计的覆盖率分析方法及系统提高了效率。
搜索关键词: 电路设计 覆盖率 分析 方法 系统
【主权项】:
暂无信息
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