[发明专利]芯片检测方法及装置在审
| 申请号： | 202210323227.4 | 申请日： | 2022-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN116930312A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 马子仪;赵发展 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01N27/72 | 分类号： | G01N27/72;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 房德权 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了芯片检测方法及装置，涉及芯片检测技术领域。本发明在待测芯片上电后，向待测芯片的多个输入端口依次输入测试信号，同时向待测芯片输入测试指令，待测芯片执行某个输入端口对应的某种测试指令时，测试信号会有特定的信号流路径，信号流路径上由于有信号流过，测试信号会影响信号流路径的磁场，这样对待测芯片进行扫描后可以感知待测芯片表面的磁场强度变化，通过获取的待测芯片磁场图像可以绘制出待测芯片的电路结构，若待测芯片的电路结构与原始芯片的电路结构不同，则确定待测芯片被篡改或为伪造，可以识别出被篡改或伪造的芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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