[发明专利]一种FPGA电路故障注入方法及其IP核在审
申请号: | 202210247238.9 | 申请日: | 2022-03-14 |
公开(公告)号: | CN114675624A | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 李悦;朱翔;赵旭;韩建伟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家空间科学中心 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人: | 陈琳琳;李彪 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及航天技术及FPGA电路单粒子效应评估技术领域,特别涉及一种FPGA电路故障注入方法及其IP核;所述IP核包括:串行数据收发模块和数据协议解析模块、寄存器模块、故障集存储模块、单帧重构指令存储模块、负载集存储模块、读回集存储模块、FLASH接口控制模块、JTAG接口控制模块和DUT接口控制模块。本发明提供的FPGA电路故障注入方法及其IP核兼容型强,适用于多种类型的FPGA芯片的故障注入,支持逐位注入模式和累积注入模式,支持多种故障类型,并且DUT接口灵活,使用方便。 | ||
搜索关键词: | 一种 fpga 电路 故障 注入 方法 及其 ip | ||
【主权项】:
暂无信息
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