[发明专利]电路接口测试方法在审
| 申请号： | 202210227318.8 | 申请日： | 2022-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN116776795A | 公开（公告）日： | 2023-09-19 |
| 发明（设计）人： | 张敏;华纯;冯雪阳;高庆;曹旺 | 申请（专利权）人： | 华润微集成电路（无锡）有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/333 | 分类号： | G06F30/333;G06F30/3312;G06F115/12 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王洁 |
| 地址： | 214135 江苏省无锡市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明涉及一种电路接口测试方法，其中，包括：(1)电路结构进入上电复位状态，并设置预设数量窗口期；(2)电路结构进入第一窗口期，芯片等待接收与预设接口的特性相匹配的功能时序信号；(3)芯片进一步判断是否接收到相关特性的功能时序信号，如果是，则芯片直接进入当前该预设接口的功能模式；否则，进入步骤(4)；(4)各个芯片引脚在当前窗口期未接收到相关特性的功能时序信号，则电路结构返回步骤(2)并进入下一窗口期进行测试处理，直到完成所有预设数量窗口期的遍历，并进入步骤(5)；(5)芯片进入正常工作状态。采用了本发明的该电路接口测试方法，能适应不同场景的应用要求，减少了封装费用，并提高了封装成功率。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 接口 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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