[发明专利]一种磁粒子成像设备在审
| 申请号： | 202210086820.1 | 申请日： | 2022-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN114403842A | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 李檀平;贾广;胡凯;黄力宇;苗启广;张艺飞 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | A61B5/0515 | 分类号： | A61B5/0515 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 王萌 |
| 地址： | 710000 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种磁粒子成像设备，包括：信号产生单元用于在非线性、非均匀的激励磁场作用下，产生感应电压信号；信号产生单元包括位置相对的上、下平板；上、下平板内置有激励线圈和接收线圈；驱动扫描单元，带动上、下平板内的激励线圈和接收线圈做圆周运动；每次圆周运动方向相反；在每次圆周运动均包括多个数据采集点；磁场激励单元，用于在每次圆周运动中的每个数据采集点，向上、下平板内的激励线圈施加同向的交变电流产生非线性、非均匀的激励磁场；数据采集与成像单元，用于在每次圆周运动中的每个数据采集点，采集上、下平板的接收线圈上产生的感应电压信号以获取目标采集数据，进行磁粒子成像。本发明实现了低功耗、大视野、高分辨率的磁粒子成像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粒子 成像 设备 | ||
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- 一种开放式磁粒子成像设备、成像系统及成像方法，解决现有技术存在的被检验体放置于密闭的检测空间内，在成像的同时不能进行其他操作，难以提高空间分辨率及成像空间，应用受限的问题。包括能够形成可移动无磁场线的无磁场线扫描线圈组，无磁场线移动的范围为无磁场线扫描区域；还包括激励缠绕线圈和检测缠绕线圈，激励缠绕线圈的磁场覆盖区域和检测缠绕线圈的检测区域均与无磁场线扫描区域相对应。其设计合理，结构紧凑，采用开放式成像结构，具有较大的成像空间，便于临床持续观察和术中观察；能够在保持低激励场强度下，增加直流梯度场强度及线性范围，有效提高空间分辨率，扩大成像范围。
- 基于FFL的高清度实时成像设备、成像系统及成像方法-202210990219.5
- 李天舒;白石;杨辉;邹宇琪;张秦阳;史力伏;盖伶柯;侯福旭;崔豪;黄平;郑福印 - 沈阳工业大学;辽宁嘉玉科技有限公司
- 2022-08-18 - 2022-12-23 - A61B5/0515
- 一种基于FFL的高清度实时成像设备、成像系统及成像方法，解决现有技术存在的成像时不能对样本进行其他操作，成像区域有限、难以实现大样本扫描，三维断层扫描的分辨率低，扫描速度慢，实用性差的问题。包括基座上设置的能形成可移动无磁场线的无磁场线扫描线圈组Ⅰ和无磁场线扫描线圈组Ⅱ，无磁场线扫描线圈组Ⅰ和无磁场线扫描线圈组Ⅱ之间为开放式的无磁场线扫描区域；还包括激励缠绕线圈和检测缠绕线圈，激励缠绕线圈的磁场覆盖区域和检测缠绕线圈的检测区域均与无磁场线扫描区域相对应。其设计合理，结构紧凑，可在成像区域内产生均匀的无磁场线，在保证成像分辨率的同时，扩大了检测空间，便于临床持续观察和术中观察。
- 一种基于磁光透射率的磁纳米粒子成像方法及装置-202210829005.X
- 刘文中;崔鑫超;杜中州;张朴;刘春萍;逯翀 - 华中科技大学
- 2022-07-14 - 2022-11-18 - A61B5/0515
- 本发明公开了一种基于磁光透射率的磁纳米粒子成像方法及装置，属于纳米材料测试技术领域。通过激光照射待检测目标区域，计算磁纳米粒子的第一透射光强，在外加磁场的作用下，利用磁纳米粒子的磁响应特性使得透过磁纳米粒子的光的透过率发生变化，通过计算变化后的第二透射光强，得到磁纳米粒子的磁光透射率，基于该磁光透射率与磁纳米粒子浓度及温度的关系，可以得到待检测目标区域内的磁纳米粒子的浓度及温度，进而实现对目标区域内磁纳米粒子成像。本发明结合了光学成像的高时空分辨优势，又能够实现在微量造影剂时对组织特异性的功能成像，成像方式简单且成像效果好。
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