[发明专利]一种脉冲X射线曝光时间测量模块、系统及方法在审

专利信息
申请号: 202210051521.4 申请日: 2022-01-17
公开(公告)号: CN114245552A 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 李德红;张健;张晓乐;黄建微;成建波;张璇;刘川凤 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: H05G1/28 分类号: H05G1/28
代理公司: 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11539 代理人: 高梅
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种脉冲X射线曝光时间测量模块,脉冲X射线曝光时间测量模块包括脉冲时间测量单元和信号处理单元;脉冲时间测量单元,探测射线束中心出射的X射线,并将X射线转换为光信号,将光信号转换为电流信号;信号处理单元,与脉冲时间测量单元相连接,对电流信号进行处理,得到模拟信号,以通过模拟信号得到X射线的曝光时间。
搜索关键词: 一种 脉冲 射线 曝光 时间 测量 模块 系统 方法
【主权项】:
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