[发明专利]一种脉冲X射线曝光时间测量模块、系统及方法在审
申请号: | 202210051521.4 | 申请日: | 2022-01-17 |
公开(公告)号: | CN114245552A | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | 李德红;张健;张晓乐;黄建微;成建波;张璇;刘川凤 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | H05G1/28 | 分类号: | H05G1/28 |
代理公司: | 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11539 | 代理人: | 高梅 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种脉冲X射线曝光时间测量模块,脉冲X射线曝光时间测量模块包括脉冲时间测量单元和信号处理单元;脉冲时间测量单元,探测射线束中心出射的X射线,并将X射线转换为光信号,将光信号转换为电流信号;信号处理单元,与脉冲时间测量单元相连接,对电流信号进行处理,得到模拟信号,以通过模拟信号得到X射线的曝光时间。 | ||
搜索关键词: | 一种 脉冲 射线 曝光 时间 测量 模块 系统 方法 | ||
【主权项】:
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