[发明专利]一种芯片特性的测试系统及方法在审
| 申请号： | 202111130108.9 | 申请日： | 2021-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN113933684A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 冯建超;傅焰峰;严杰;王栋;冯朋 | 申请（专利权）人： | 武汉光谷信息光电子创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 崔晓岚;张颖玲 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种芯片特性的测试系统及方法，所述系统包括上位机、与所述上位机进行数据通信的控制板、以及与所述控制板连接的测试板和特性测试组件；所述测试板包括至少一个待测试芯片；所述测试板设置在老化试验箱内；所述上位机，用于发送芯片老化指令至所述控制板；所述控制板，用于基于所述芯片老化指令切换所述至少一个待测试芯片的管脚控制通道，以接入目标待测试芯片对应的目标管脚；还用于为所述目标待测试芯片供电，控制所述特性测试组件采集所述目标管脚的特性数据，基于所述特性数据获得所述目标待测试芯片的特性测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 特性 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉光谷信息光电子创新中心有限公司，未经武汉光谷信息光电子创新中心有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111130108.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种PEX管道系统
- 下一篇：一种核心土通长黏结型对拉锚杆轴力分布的计算方法
