[发明专利]用于芯片的输入参数测试电路及方法有效
| 申请号： | 202111084023.1 | 申请日： | 2021-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN113533943B | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 鲁翔;李炜 | 申请（专利权）人： | 深圳市爱普特微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人： | 车大莹;郭伟刚 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用于芯片的输入参数测试电路，测试电路包含在芯片中，包括多个串联的测试单元，每个测试单元包括：第一端，连接封装管脚或未封装管脚；第二端，连接上一级测试单元的输出；控制模块，用于在初始化阶段，将连接封装管脚的测试单元设置为激活状态，将连接未封装管脚的测试单元设置为旁路状态。本发明在初始化阶段，将连接未封装管脚的测试单元设置为旁路状态，则在随后的测试过程中，该测试单元被排除在测试链路之外，利用设置为激活状态的测试单元，对封装管脚进行测试。由此，通过增加一个初始化步骤，可以实现根据封装形式，自动调整测试单元的结构，从而实现测试TREE的最小化。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 输入 参数 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市爱普特微电子有限公司，未经深圳市爱普特微电子有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111084023.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
