[发明专利]芯片内部电阻测量装置及其测量方法在审
| 申请号： | 202110659192.7 | 申请日： | 2021-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN115480104A | 公开（公告）日： | 2022-12-16 |
| 发明（设计）人： | 高蕾 | 申请（专利权）人： | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/14 | 分类号： | G01R27/14 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;张靖琳 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片内部电阻测量装置及其测量方法，该装置包括：电源模块，用于提供电源电压；测试电压生成模块，用于根据电源电压生成测试电压；电阻模拟模块，用于根据测试电压在待测引脚处建立模拟电阻；其中，芯片内部电阻测量装置通过电源模块调节模拟电阻的电阻值，以使模拟电阻的电阻值与待测芯片的内部电阻的电阻值相同；芯片内部电阻测量装置根据模拟电阻的电阻值与待测芯片的内部电阻的电阻值相同时的测试电压和待测引脚处的电压值确定待测芯片的内部电阻的电阻值。本发明能够通过改变电压的方式实现对芯片内部电阻的扫描测量和卡点测量，且测量过程不受芯片引脚上的电流影响，能够有效的降低测量误差。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 内部 电阻 测量 装置 及其 测量方法 | ||
【主权项】：
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