[发明专利]一种原位测试方法和能够搭载微纳尺度样品的样品台在审

专利信息
申请号: 202110596603.2 申请日: 2021-05-31
公开(公告)号: CN113325021A 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 闫亚宾;轩福贞;王晓媛;高阳;李晟;李振凯 申请(专利权)人: 华东理工大学
主分类号: G01N23/2251 分类号: G01N23/2251;G01N23/2202;G01N23/2204
代理公司: 北京高沃律师事务所 11569 代理人: 王富强
地址: 200237 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种能够搭载微纳尺度样品的样品台,包括基座、封盖和金属丝,基座呈立方体状,立方体的六个面上分别设置有螺纹孔,封盖通过螺丝与基座的上表面固连,金属丝的中部和底部位于封盖和基座之间,封盖和基座将金属丝的中部和底部夹紧,金属丝的顶端为平面,通过显微沉积焊接工艺将微纳尺度样品固定在金属丝的顶端的平面上。一种原位测试方法,将微纳尺度样品固定在上述样品台中金属丝的顶端,将样品台装夹在微型力学测试仪上对微纳尺度样品进行原位测试。本发明的原位测试方法和能够搭载微纳尺度样品的样品台能够方便地对微纳尺度样品进行制备、转移和测试。
搜索关键词: 一种 原位 测试 方法 能够 搭载 尺度 样品
【主权项】:
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