[发明专利]掩模板及监控遮光板位置的方法在审
申请号: | 202110591286.5 | 申请日: | 2021-05-28 |
公开(公告)号: | CN113267957A | 公开(公告)日: | 2021-08-17 |
发明(设计)人: | 周世均;葛妍聪;王晓龙 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | G03F1/44 | 分类号: | G03F1/44;G03F7/20;G03F9/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 周耀君 |
地址: | 201315*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供一种掩模板及监控遮光板位置的方法,所述掩模板包括一基板,所述基板的框架区域设置有至少四个检测标记组,且沿所述基板的每个边上至少分布有一个所述检测标记组,利用所述掩模板曝光时所述遮光板能够移动至所述掩模板上方并遮挡所述检测标记组的部分区域。通过带有检测标记的掩模板将检测标记自动曝光到晶圆,再将带有遮光板位置信息的晶圆,投入套刻精度检测机器(OVL)自动测试,得到刻套标记图形的数量,利用刻套标记图形的数量乘以套刻标记图形的中心间隔即可确认光刻设备的遮光板位置。整个监控过程,自动曝光、自动测量、直接对比,解决了对光刻设备的遮光板位置进行方便快捷监控的问题。 | ||
搜索关键词: | 模板 监控 遮光板 位置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备