[发明专利]芯片测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品有效
| 申请号： | 202110558763.8 | 申请日： | 2021-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113254284B | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 李炎 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;马晓亚 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种芯片测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品，涉及计算机技术领域，具体涉及系统级芯片技术领域，尤其涉及芯片测试方法、装置、设备、存储介质以及程序产品。该方法的一具体实施方式包括：获取芯片的设计模型；生成针对该芯片的管脚的随机化配置，其中，随机化配置用于指示该芯片的各管脚分别与该芯片的各通信功能模块的各引脚之间的连接关系；按照随机化配置对设计模型中的数据选择器进行对应配置，得到配置后的设计模型；利用配置后的设计模型，对各通信功能模块进行功能测试。该实施方式可以实现对芯片的各通信功能模块在各种配置下的随机化功能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 设备 存储 介质 以及 程序 产品 | ||
【主权项】：
暂无信息
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