[发明专利]用于芯片测试的引脚映射方法有效
| 申请号： | 202110544902.1 | 申请日： | 2021-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN113326168B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 陈永;邬刚 | 申请（专利权）人： | 杭州加速科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 王再芊;毕长生 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市余杭区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于芯片测试的芯片引脚映射方法。该方法包括：解析芯片连接装置的原理图数据，获得测试机连接器类型信息、芯片类型信息以及原理图拓扑结构信息(11)；根据测试机连接器类型信息从测试机连接器资源库中获得连接器资源信息(12)；根据芯片类型信息从芯片资源库中获得芯片引脚信息(13)；根据芯片引脚信息、测试机连接器资源信息以及原理图拓扑结构信息，获得芯片引脚与测试机资源的连接关系(14)。本发明的用于芯片测试的引脚测试方法能够根据芯片连接装置的原理图自动地获得测试机资源与芯片引脚之间的连接关系，从而避免了现有技术中人工输入所带来的效率低下以及易于出错的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 测试 引脚 映射 方法 | ||
【主权项】：
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