[发明专利]一种力致发光测量系统及测量方法在审
| 申请号： | 202110514447.0 | 申请日： | 2021-05-11 |
| 公开（公告）号： | CN113432765A | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 吴少凡;陈曦;张鲜辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01L1/24 | 分类号： | G01L1/24;G01L1/26;G01L5/00 |
| 代理公司： | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 | 代理人： | 杨晓云 |
| 地址： | 350002 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种力致发光测量系统及测量方法，属于材料性能检测技术领域，能够解决现有测量系统不能控制冲击截面以及不能保证小球有无旋转的问题。所述系统包括：载物平台，载物平台上设置有凹槽，凹槽用于放置粉末状待测样品；机械激发装置，设置在载物平台的上方，用于向待测样品施加激发力，以使待测样品受力后产生激发光；压力传感器，固定在机械激发装置上，用于检测机械激发装置向待测样品施加的激发力的大小；控制单元，用于控制机械激发装置向待测样品施加激发力的方式和大小；光纤探头，设置在载物平台的下方，用于采集待测样品的激发光；光谱仪，用于对光纤探头采集到的激发光进行光谱分析。本发明用于材料发光性能检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院福建物质结构研究所，未经中国科学院福建物质结构研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110514447.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种可调节波纹管支撑装置
- 下一篇：电子设备
