[发明专利]芯片的系统级测试方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110450217.2 | 申请日： | 2021-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN113238897A | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 杨荟奇 | 申请（专利权）人： | 北京物芯科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100013 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片的系统级测试方法、装置、计算机设备及存储介质。所述方法包括：构建与目标报文对应的传输数据和预期信息，并将预期信息存储于预设的存储区中；将传输数据输入至与待测芯片匹配的参考模型中；通过参考模型中每个环境模块，更新当前流转至自身模块的传输数据中的接口数据，并在存储区的预期信息中加入与自身模块匹配的预期模块信息；根据待测芯片针对目标报文输出的实际处理结果，以及存储区中当前存储的预期信息，对待测芯片进行系统级测试。本发明实施例的技术方案提供了对芯片进行仿真测试的新方式，满足了系统级的芯片测试需求，可以为芯片设计人员提供更丰富的系统级芯片测试结果，提高芯片的开发和上线效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 系统 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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