[发明专利]一种预测器件重离子单粒子效应截面曲线的方法在审
| 申请号： | 202110381221.8 | 申请日： | 2021-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN113109860A | 公开（公告）日： | 2021-07-13 |
| 发明（设计）人： | 罗尹虹;陈兆群;陈伟;张凤祁;王坦;丁李利;赵雯 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了预测器件重离子单粒子效应截面曲线的方法，包括以下步骤：对器件开展质子或中子单粒子效应实验，获取质子或中子单粒子效应截面数据并威布尔拟合得到质子或中子单粒子效应截面曲线；构建芯片结构模型，蒙卡计算不同能量质子或中子与器件材料发生核反应在灵敏层内产生的次级粒子LET谱；估算两个重离子单粒子效应截面数据点并初步拟合一条重离子单粒子效应截面曲线；将该重离子单粒子效应截面曲线与次级粒子LET谱积分，得到器件的质子或中子单粒子效应截面；比对积分计算数据与实验数据，调整重离子单粒子效应截面曲线的拟合参数，重复积分直到计算数据与实验数据的偏差在一定范围内，即得所需重离子单粒子效应截面曲线。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 预测 器件 离子 粒子 效应 截面 曲线 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北核技术研究所，未经西北核技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110381221.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种金属粉末的制备方法及装置
- 下一篇：铁铬合金表面铜涂层及其制备方法
