[发明专利]一种850nm波段零偏压工作的光电探测器的外延结构在审

专利信息
申请号: 202110361770.9 申请日: 2021-04-02
公开(公告)号: CN113130694A 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 陈佰乐;谢治阳 申请(专利权)人: 上海科技大学
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/0236;H01L31/0304
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 31001 代理人: 徐俊
地址: 201210 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种850nm波段零偏压工作的光电探测器的外延结构。所述光电探测器的外延结构从下到上依次包括半绝缘GaAs衬底、缓冲层、阴极接触层、集电层、过渡层、耗尽GaAs吸收层、非耗尽GaAs吸收层、覆盖层和阳极接触层。本发明的外延结构用于光电探测器中,具有低暗电流、高响应度、高响应带宽和在零偏压下工作的特点,能够满足850nm波段短距离光互联系统的需求。
搜索关键词: 一种 850 nm 波段 偏压 工作 光电 探测器 外延 结构
【主权项】:
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