[发明专利]激光扫频干涉测量的非线性校正与量程扩展装置及方法在审
| 申请号： | 202110337099.4 | 申请日： | 2021-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN113029034A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 张雪冰清;许新科;孔明;郭天太;赵军;王道档;刘璐;刘维 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B9/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于激光扫频干涉测量的非线性校正与量程扩展装置及方法。装置中的分束器将可调谐激光器发出的激光分为两束进入主光路和辅助光路，由于可调谐激光器发出频率可被线性调制的信号，并且主光路中的延迟单模光纤和辅助光路中的延迟单模光纤的由于长度不同，导致双光路中的信号形成光程差，从而构成基本的迈克尔逊干涉仪，产生干涉现象。数据采集卡将采集到的信息数据输送至计算机，再结合扩相频率采样法对信号做处理，即通过对辅助干涉仪拍相位的扩展，使系统满足奈奎斯特采样定律，完成对测量信号拍频非线性校正。有益效果：利用扩相频率采样法对信号做处理，可实现测量信号的拍频非线性校正，提高测量精度，并解决量程受限的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 干涉 测量 非线性 校正 量程 扩展 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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