[发明专利]电子锁测试方法、测试系统、测试装置、设备和介质在审

专利信息
申请号: 202110335946.3 申请日: 2021-03-29
公开(公告)号: CN113064012A 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 唐耀威;郑文和;张运贵 申请(专利权)人: 万晖五金(深圳)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M13/00
代理公司: 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙) 44325 代理人: 谭果林
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种电子锁测试方法、测试系统、测试装置、设备和介质;测试方法包括:获取测试参数,测试参数包括控制参数和固件参数,测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成;根据控制参数生成控制测试固件,并根据固件参数生成电子锁固件;将控制测试固件编译下载至测试设备中,并将电子锁固件编译下载至待测电子锁中,以使测试设备对待测电子锁施加预设的控制信号;根据是否接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号,确定控制参数和固件参数是否符合设计参数;其中,控制测试开锁信号为,测试设备确定待测电子锁验证控制信号通过后才反馈。本发明的测试方法以产品规格的设计参数作为指导,可缩短电子锁的开发周期,并提高电子锁的质量。
搜索关键词: 电子锁 测试 方法 系统 装置 设备 介质
【主权项】:
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