[发明专利]电子锁测试方法、测试系统、测试装置、设备和介质

说明书

本发明涉及一种电子锁测试方法、测试系统、测试装置、设备和介质；测试方法包括：获取测试参数，测试参数包括控制参数和固件参数，测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成；根据控制参数生成控制测试固件，并根据固件参数生成电子锁固件；将控制测试固件编译下载至测试设备中，并将电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使测试设备对待测电子锁施加预设的控制信号；根据是否接收到测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定控制参数和固件参数是否符合设计参数；其中，控制测试开锁信号为，测试设备确定待测电子锁验证控制信号通过后才反馈。本发明的测试方法以产品规格的设计参数作为指导，可缩短电子锁的开发周期，并提高电子锁的质量。

技术领域

本发明涉及电子锁测试的技术领域，尤其涉及一种电子锁测试方法、测试系统、测试装置、计算机设备和可读存储介质。

背景技术

当前的电子锁行业，电子锁产品的质量普遍存在问题，例如电子锁的指纹匹配时间长、效率低，电子锁电池的实际耗电大于预期等等。发明人发现，电子锁产品的质量往往与前期的研发设计、以及试产过程中的关联测试密不可分。在目前的电子锁行业中，发明人还发现，从电子锁的研发阶段，试产阶段甚至到大规模的量产阶段，针对电子锁的测试手段不一。而市场上，针对设备供应商提供的测试设备，大部分也仅是实现将既定的测试程序重复执行，例如对电子锁进行预定的寿命测试等。

上述出现的问题与电子锁的设计行为基本毫不相关，以至于试产期间电子锁存在的问题未能及时发现，从而导致后期量产出售时的电子锁具有较大的潜在风险。

发明内容

本发明所要解决的问题是，针对现有开发阶段的电子锁测试往往与设计行为毫不相关，而导致电子锁存在较大潜在风险的问题，提出一种电子锁测试方法、测试系统、测试装置、计算机设备和可读存储介质，以降低电子锁开发的潜在风险，提高电子锁的质量。

本发明第一方面提供一种电子锁测试方法，其中，所述测试方法包括：

获取测试参数，所述测试参数包括控制参数和固件参数，所述测试参数为依据电子锁产品规格的设计参数所生成；

根据所述控制参数生成控制测试固件，并根据所述固件参数生成电子锁固件；

将所述控制测试固件编译下载至测试设备中，并将所述电子锁固件编译下载至待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加预设的控制信号；

根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述控制参数和所述固件参数是否符合所述设计参数；

其中，所述控制测试开锁信号为，所述测试设备确定所述待测电子锁验证所述控制信号通过后才反馈。

可选地，所述根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述控制参数和所述固件参数是否符合所述设计参数，包括：

若接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，则确定所述控制参数和所述固件参数为符合所述设计参数。

可选地，若未接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，则确定所述控制参数和所述固件参数为不符合所述设计参数，所述测试方法还包括：

a.根据所述设计参数和所述测试参数生成新一组测试参数；所述新一组测试参数包括新一组控制参数和新一组固件参数；

b.根据所述新一组控制参数生成新一版本的控制测试固件，以及根据新一组固件参数生成新一版本的电子锁固件；

c.将所述新一版本的控制测试固件编译下载至所述测试设备中，并将所述新一版本的电子锁固件编译下载至所述待测电子锁中，以使所述测试设备对所述待测电子锁施加与所述新一版本的控制测试固件对应的控制信号；

d.根据是否接收到所述测试设备反馈的控制测试开锁信号，确定所述新一组激励控制参数和所述新一组固件参数是否符合所述设计参数；