[发明专利]芯片仿真验证方法、系统、设备及存储介质有效
| 申请号： | 202110315045.8 | 申请日： | 2021-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN113032195B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 谭黎敏;李明慧;宋捷 | 申请（专利权）人： | 上海西井信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/263 |
| 代理公司： | 上海隆天律师事务所 31282 | 代理人： | 夏彬 |
| 地址： | 200050 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片仿真验证方法、系统、设备及存储介质，该方法包括：获取芯片验证配置文件，芯片验证配置文件包括算子参数和测试参数，算子参数包括各个算子的配置参数，测试参数包括运行模式，运行模式包括单个算子测试和/或芯片模型整体测试；根据芯片验证配置文件生成随机激励数据；将随机激励数据输入对应的仿真算子或仿真算法模型，并获取仿真结果；根据随机激励数据和芯片的输入数据格式要求，生成输入芯片的输入文件；将输入文件输入芯片，并获取芯片的输出结果；比对仿真结果和芯片的输出结果，得到芯片验证结果。本发明应用于神经网络模型推理芯片的仿真和验证，实现了不同神经网络模型和算子的快速功能验证。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 仿真 验证 方法 系统 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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