[发明专利]最小误差的单点阵列响应控制方向图综合方法在审
申请号: | 202110293693.8 | 申请日: | 2021-03-19 |
公开(公告)号: | CN113051745A | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
发明(设计)人: | 兰岚;吕微慧;廖桂生;朱圣棋;许京伟;邓敬亚 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 侯琼;王品华 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种最小误差的单点阵列响应控制方向图综合方法,主要解决了现有单点阵列方向图无法灵活控制的技术问题。方案包括:1)初始化并开始迭代过程;2)选取待控制角度;2)通过使阵列误差最小化得到相位响应的闭式解;3)获取权矢量的更新形式;4)得到权矢量对应阵列的方向图;5)判断得到的方向图是否满足期望方向图的要求,若满足,则输出该方向图;否则,继续迭代,重新调整权矢量进行方向图的合成。本发明通过使阵列误差最小化,得到了虚拟干扰功率的精确计算形式,从而实现了方向图的灵活控制,有效避免了方向图的畸变现象,显著提高了方向图的灵活性,实现单点方向图电平的精确控制。 | ||
搜索关键词: | 最小 误差 单点 阵列 响应 控制 方向 综合 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110293693.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种易清洁防水涤纶针织面料及其织造工艺
- 下一篇:一种挤出模具用定型机构