[发明专利]一种降低ITO薄膜红外吸收率的方法在审

专利信息
申请号: 202110290390.0 申请日: 2021-03-18
公开(公告)号: CN113106405A 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 程秀兰;李雅倩;王晓东;付学成;刘民;权雪玲 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/08;C23C14/58
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种降低ITO薄膜红外吸收率的方法,包括如下步骤:基片清洗步骤:透明的优质浮法玻璃作为基底,使用丙酮在超声的环境下进行清洗;ITO薄膜制备步骤:沉积ITO薄膜,设定靶材转速、溅射功率,经过设定时间得到ITO薄膜;退火处理步骤:使用快速热处理炉对制备好的ITO薄膜进行快速热退火处理,退火后得到最终的ITO薄膜。本发明实现了低红外吸收、高透射率的ITO薄膜的制备,并且薄膜的电阻率较低。且本发明的后续的处理工艺简易、稳定。
搜索关键词: 一种 降低 ito 薄膜 红外 吸收率 方法
【主权项】:
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