[发明专利]一种以磁控溅射Cu薄膜为缓冲层的二维hBN薄膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110273353.9 申请日: 2021-03-15
公开(公告)号: CN112962082A 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 陈占国;赵泽利;陈曦;赵纪红;刘秀环;侯丽新;高延军 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: C23C16/02 分类号: C23C16/02;C23C16/455;C23C14/35;C23C14/18;C23C14/58;C23C16/38;C23C16/34
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 刘世纯;王恩远
地址: 130012 吉林省长春市*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种以磁控溅射Cu薄膜为缓冲层的二维hBN薄膜及其制备方法,属于半导体材料外延生长技术领域。本发明利用磁控溅射技术在蓝宝石或石英等衬底上生长一层Cu薄膜作为缓冲层,然后再采用低压化学气相沉积技术在Cu缓冲层上外延生长二维hBN薄膜。与现在技术中使用的金属箔片相比,Cu缓冲层表面更加平整光滑,并且是Cu(111)晶面,与hBN晶格十分匹配,更适合于二维hBN薄膜的生长,Cu缓冲层的厚度可由Cu靶材的溅射工艺参数进行调节。采用本发明方法制得的二维hBN薄膜尺寸较大、质量较高,且Cu薄膜缓冲层可以作为垂直结构的hBN器件的底电极直接使用。
搜索关键词: 一种 磁控溅射 cu 薄膜 缓冲 二维 hbn 及其 制备 方法
【主权项】:
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