[发明专利]一种以磁控溅射Cu薄膜为缓冲层的二维hBN薄膜及其制备方法在审
申请号: | 202110273353.9 | 申请日: | 2021-03-15 |
公开(公告)号: | CN112962082A | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 陈占国;赵泽利;陈曦;赵纪红;刘秀环;侯丽新;高延军 | 申请(专利权)人: | 吉林大学 |
主分类号: | C23C16/02 | 分类号: | C23C16/02;C23C16/455;C23C14/35;C23C14/18;C23C14/58;C23C16/38;C23C16/34 |
代理公司: | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人: | 刘世纯;王恩远 |
地址: | 130012 吉林省长春市*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 一种以磁控溅射Cu薄膜为缓冲层的二维hBN薄膜及其制备方法,属于半导体材料外延生长技术领域。本发明利用磁控溅射技术在蓝宝石或石英等衬底上生长一层Cu薄膜作为缓冲层,然后再采用低压化学气相沉积技术在Cu缓冲层上外延生长二维hBN薄膜。与现在技术中使用的金属箔片相比,Cu缓冲层表面更加平整光滑,并且是Cu(111)晶面,与hBN晶格十分匹配,更适合于二维hBN薄膜的生长,Cu缓冲层的厚度可由Cu靶材的溅射工艺参数进行调节。采用本发明方法制得的二维hBN薄膜尺寸较大、质量较高,且Cu薄膜缓冲层可以作为垂直结构的hBN器件的底电极直接使用。 | ||
搜索关键词: | 一种 磁控溅射 cu 薄膜 缓冲 二维 hbn 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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