[发明专利]坏块筛选方法、装置、可读存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202110255826.2 | 申请日： | 2021-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN113035265A | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 孙成思;孙日欣;王营许;高嵊昊;胡伟;朱渝林;童海涛 | 申请（专利权）人： | 成都佰维存储科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 王芳 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种坏块筛选方法、装置、可读存储介质及电子设备，在对NAND闪存的待筛选块执行擦写读操作的过程中，确定所述待筛选块中当前页的第一比特翻转个数；判断所述第一比特翻转个数是否超过第一预设阈值，若是，则多次读取所述当前页的原始数据，根据多次读取结果确定所述当前页的第二比特翻转个数；根据所述当前页的原始数据确定存储单元测试率，并根据所述第二比特翻转个数与所述存储单元测试率确定所述当前页的第三比特翻转个数；判断所述第三比特翻转个数是否超过第二预设阈值，若是，则将所述当前页对应的待筛选块标记为坏块，有效防止了遗漏统计比特翻转个数，能够更准确地筛选坏块，避免了坏块遗漏。 | ||
| 搜索关键词： | 筛选 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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