[发明专利]检测方法以及检测装置在审
| 申请号： | 202080012592.2 | 申请日： | 2020-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN113396330A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 河村达朗;柳川博人;安浦雅人;藤卷真 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543;G01N33/553;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 张轶楠;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 通过使固定于具有磁性的金属颗粒(2)的第1物质(3)和由荧光体(4)标记的第2物质(5)与标靶物质(1)结合来形成复合体(6)(S101)，通过施加磁场来使复合体(6)进行移动(S102、S104)，对移动中的复合体(6)照射具有预定波长的激励光(21)，激励光使荧光体(4)放射荧光，荧光通过在金属颗粒(2)产生的局域表面等离激元共振被增强(S103)，历时地拍摄被增强了的荧光，取得多个二维图像(S105)，基于多个二维图像各自包含的光点来检测标靶物质(1)(S106)，金属颗粒(2)具有内核部(2a)和外壳部(2b)，该内核部(2a)由磁性材料形成，该外壳部(2b)覆盖内核部(2a)，由产生局域等离激元表面共振的非磁性的金属材料形成。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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