[发明专利]瑕疵检测方法及装置、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 202011640557.3 | 申请日： | 2020-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN112669300A | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 茅心悦 | 申请（专利权）人： | 上海智臻智能网络科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/10;G06T7/73;G06K9/62;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张振军 |
| 地址： | 201803 上海市嘉*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种瑕疵检测方法及装置、计算机设备和存储介质，其中，所述方法包括：获取目标图片；对所述目标图片进行特征识别和分类，得到所述目标图片包含的一个或多个特征的类别信息，将所述类别信息记作第一结果；分别对各个所述特征进行实例分割，以得到第二结果，所述第二结果包括所述特征包含的一个或多个实例以及每一实例对应的位置信息；根据所述第一结果和第二结果得到所述目标图片的瑕疵检测结果。由此，能够基于实例对图像进行瑕疵检测，以提高瑕疵检测效果。 | ||
| 搜索关键词： | 瑕疵 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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