[发明专利]一种ATE设备各通道芯片相对延时测量校准方法及装置在审
| 申请号： | 202011629010.3 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112821885A | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 邬刚;黄海平 | 申请（专利权）人： | 杭州加速科技有限公司 |
| 主分类号： | H03K5/135 | 分类号： | H03K5/135 |
| 代理公司： | 深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486 | 代理人： | 王策 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市余杭区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种ATE设备各通道芯片相对延时测量校准方法，涉及延时测量及控制技术领域，包括Driver0端口输出电脉冲信号至检测芯片Receiver0、Receiver1、…、ReceiverN‑1以及ReceiverN；对各通道的电脉冲信号作等长处理；计算延时参数；将计算出的延时参数输入FPGA进行延时矫正补偿四部分。本发明有益效果：本发明延时测量装置结构简单，测量方法能够实现自动测量相对延时，测量出相对延时后利用FPGA器件内部延时控制单元自动补偿延时，且通道数目可自由选择，配置简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ate 设备 通道 芯片 相对 延时 测量 校准 方法 装置 | ||
【主权项】：
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