[发明专利]用于校准激光扫平仪的装置和方法在审

专利信息
申请号: 202011624990.8 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112611398A 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 王伟臣;石昕;邢星 申请(专利权)人: 上海诺司纬光电仪器有限公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C15/00
代理公司: 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 代理人: 杨胜军
地址: 201707 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本公开内容涉及一种用于校准激光扫平仪的装置,所述装置包括:旋转单元,所述旋转单元被构造用于旋转所述激光扫平仪;测距单元,所述测距单元被构造用于确定所述激光扫平仪与接收所述激光扫平仪发射的激光的接收单元之间的第一距离;以及控制单元,所述控制单元被构造为接收所述第一距离、所述激光扫平仪发射的激光在旋转第一角度前后分别在所述接收单元上的位置所确定的第二距离,并且基于所述第一距离、所述第二距离以及所述第一角度确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。依据本公开内容的装置能够借助于自身所集成的测距单元实现对于所述激光扫平仪在接收单元处于任意非固定位置处的校准,能够在确保校准精准度的同时确保校准操作的高效。
搜索关键词: 用于 校准 激光 扫平 装置 方法
【主权项】:
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