[发明专利]用于校准激光扫平仪的方法在审

专利信息
申请号: 202011624564.4 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112611396A 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 王伟臣;石昕;邢星 申请(专利权)人: 上海诺司纬光电仪器有限公司;美国西北仪器公司
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C15/00
代理公司: 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 代理人: 杨胜军
地址: 201707 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 本公开内容涉及一种用于校准激光扫平仪的方法,所述方法包括:激光扫平仪向接收单元发射激光,获取并记录所述接收单元上所接收的第一激光位置;将所述激光扫平仪沿竖直轴线水平旋转180度,获取所述激光扫平仪中的水平度传感器的第一检测值;调节所述激光扫平仪发射的激光的坡度,使得所述接收单元上的激光位于所述第一激光位置,获取所述激光扫平仪中的水平度传感器的第二检测值;以及基于所述第一检测值和所述第二检测值确定是否需要对所述激光扫平仪进行校准。依据本公开内容所提出的用于校准激光扫平仪的方法借助于激光水平仪自身所具有的坡度功能来实现校准,基本上不太需要特定的仪器的辅助,其校准过程简单方便,而且精度也较高。
搜索关键词: 用于 校准 激光 扫平 方法
【主权项】:
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