[发明专利]图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及介质在审

专利信息
申请号: 202011527501.7 申请日: 2020-12-22
公开(公告)号: CN114663335A 公开(公告)日: 2022-06-24
发明(设计)人: 郭锦斌;简士超;蔡东佐 申请(专利权)人: 富泰华工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08;G06N7/00
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 孙哲
地址: 518109 广东省深圳市龙华新区观澜街道大三*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及图像分析技术,本申请提供一种图像瑕疵检测方法、装置、电子设备及介质。该方法能够从图像瑕疵检测请求中提取待检测图像,将待检测图像转换为多个不同预设尺寸的尺寸图像,利用预先构建的编码器对多个尺寸图像进行特征提取,得到多个潜向量,将多个潜向量输入至与编码器对应的解码器中,得到多个重构图像,及将多个潜向量输入至预先训练的高斯混合模型中,得到每个尺寸图像对应的估测概率,将每个重构图像与每个尺寸图像进行比较,得到每个尺寸图像的计算误差,根据每个估测概率及每个计算误差确定每个尺寸图像的总误差,并根据每个总误差及与每个总误差对应的预设阈值确定待检测图像的检测结果,提高瑕疵检测的准确度。
搜索关键词: 图像 瑕疵 检测 方法 装置 电子设备 介质
【主权项】:
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