[发明专利]一种颗粒分析方法、装置及颗粒分选设备在审
| 申请号： | 202011520297.6 | 申请日： | 2020-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN112683758A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 潘文强;蓝科;于大维 | 申请（专利权）人： | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种颗粒分析方法、装置及颗粒分选设备。该颗粒分析方法包括：对待测样本中流过探测区域的多个待测颗粒进行第一光信号探测，并对第一光信号探测结果进行分析，确定待成像探测颗粒；对待测样本中流过所述探测区域的待成像探测颗粒进行成像探测。本发明的方案提高了颗粒分析准确率和分析效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 分析 方法 装置 分选 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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