[发明专利]智能存储器装置测试资源在审

专利信息
申请号: 202011496987.2 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112992255A 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: G·D·哈默 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C29/38 分类号: G11C29/38;G11C29/56
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及智能存储器装置测试资源。一种存储器装置测试资源包含所述存储器装置测试资源的专用处理装置,所述专用处理装置配置成促进耦合到所述存储器装置测试资源的存储器子系统的存储器装置的测试。所述存储器装置测试资源进一步包含:存储器子系统接口端口,其耦合到所述专用处理装置且配置成将所述存储器装置测试资源耦合到所述处理装置;测试条件组件,其耦合到所述专用处理装置且配置成在所述存储器装置测试资源处产生测试条件;及测试资源监测组件,其耦合到所述专用处理装置且配置成在所述存储器装置测试资源处监测一或多个条件。
搜索关键词: 智能 存储器 装置 测试 资源
【主权项】:
暂无信息
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