[发明专利]一种半导体测试系统的高压漏电测试隔离通讯模块在审
| 申请号： | 202011297943.7 | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN112305289A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 刘若智 | 申请（专利权）人： | 上海芯哲微电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R15/22 | 分类号： | G01R15/22;G01R15/16;G01R1/04;G01R1/18 |
| 代理公司： | 北京市浩东律师事务所 11499 | 代理人： | 李琼 |
| 地址： | 201404 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体测试系统的高压漏电测试隔离通讯模块，包括两个稳压隔离连接支路、一个2通道数字隔离器，每个稳压隔离连接支路分别由稳压器、反相器、光电耦合器构成，机械手PLC有两个数字信号输出端一一对应通过两个稳压隔离连接支路与高压测试仪的启动信号输入端、复位信号输入端连接；高压测试仪的两个数字信号输出端通过2通道数字隔离器与机械手PLC的两个数字信号输入端连接。本发明提解决了各种高压测试和机械手的通讯因高压串入PCB造成分BIN错误的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 系统 高压 漏电 隔离 通讯 模块 | ||
【主权项】：
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