[发明专利]KDP类晶体锥柱生长区域的判别方法及测量装置在审
| 申请号： | 202011206315.3 | 申请日： | 2020-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN112432898A | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 赵元安;李婷;连亚飞;朱翔宇;邵建达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/59;G01N1/28;C30B29/14 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
一种KDP类晶体锥柱生长区域的判别方法和测试装置，其中方法包括：测量深紫外某一波长激光光束的初始能量E |
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| 搜索关键词： | kdp 晶体 生长 区域 判别 方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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