[发明专利]一种基于频率选择表面的硅基光栅化栅极太赫兹探测器在审

专利信息
申请号: 202011201341.7 申请日: 2020-11-02
公开(公告)号: CN112436071A 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 张新;傅海鹏;马凯学 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: H01L31/119 分类号: H01L31/119
代理公司: 天津市三利专利商标代理有限公司 12107 代理人: 韩新城
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开一种基于频率选择表面的硅基光栅化栅极太赫兹探测器,包括频率选择表面和光栅化栅极的MOS管;频率选择表面是一种二维周期单元形成的阵列结构的空间滤波器;每一个周期单元代表不同作用的频率选择表面单元;光栅化栅极的MOS管的栅极为光栅结构,金属源极经通孔与有源区连接;光栅化的栅极在耦合空间太赫兹辐射后,将空间太赫兹信号转化为交流电信号并传入MOS管的沟道中,在沟道中晶体管对交流信号检波,从而在漏极产生直流电信号,实现太赫兹信号探测。本发明通过频率选择表面可以很好地与光栅化栅极探测器相结合,同时对特定频段的太赫兹波有更高增益的响应。
搜索关键词: 一种 基于 频率 选择 表面 光栅 栅极 赫兹 探测器
【主权项】:
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