[发明专利]一种固态硬盘老化产生坏块的解析方法、装置在审
| 申请号： | 202011109054.3 | 申请日： | 2020-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN112216338A | 公开（公告）日： | 2021-01-12 |
| 发明（设计）人： | 杜宾 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 李舜江 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种固态硬盘老化产生坏块的解析方法、装置，所述的方法包括如下步骤：老化测试过程将坏块信息存储于存储器；将存放坏块的存储器进行地址划分；按划分的地址分块提取坏块信息；将提取的坏块信息按照坏块结构进行解析；将解析后的坏块信息写入数据库。该方法用于SSD生产阶段FT2工站解析坏块信息，快速定位故障颗粒位置，减少了故障盘维修时间和测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固态 硬盘 老化 产生 解析 方法 装置 | ||
【主权项】：
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