[发明专利]用于低功率Z波束形成检测的系统和方法在审

专利信息
申请号: 202011102275.8 申请日: 2020-10-15
公开(公告)号: CN112752331A 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: C·R·维尔钦;C·A·魏因伯格;J·G·伍德;G·阿斯兰 申请(专利权)人: 硅实验室公司
主分类号: H04W52/02 分类号: H04W52/02;G07C9/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘茜璐;陈岚
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了用于检测和接收在多个信道上发送的Z波束的系统和方法。该系统包括无线电电路,其包括数字信号到达(DSA)电路和读取信道。DSA电路能够基于接收信号功率、所检测的频率偏差、相位尖峰的幅度和/或其他特性来检测特定信道上的有效信号的存在。读取信道能够解码传入分组。使用软件来控制DSA电路和读取信道,使得在每一唤醒时段期间,FLiRS设备监视所有可用信道以确定是否存在Z波束。如果检测到Z波束,则读取信道接收Z波束。否则,FLiRS设备返回到休眠模式。
搜索关键词: 用于 功率 波束 形成 检测 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
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