[发明专利]上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机在审
申请号: | 202011063128.4 | 申请日: | 2020-09-30 |
公开(公告)号: | CN111982816A | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 杨建设;张雅凯;缪凯;刘雪飞 | 申请(专利权)人: | 昆山晔芯电子科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/95 |
代理公司: | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人: | 刘艳 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机,上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板,上盖支架的一侧开设有镜头腔,上盖支架的另一侧开设有压片腔,镜头固定座固定于镜头腔内,上压片固定座固定于压片腔内,上压片固定于上压片固定座且用于压紧芯片。本发明提供的上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机,通过设置镜头固定座和上压片固定座,使得在更换芯片之后,可以通过调整镜头相对镜头固定座的位置或者更换镜头固定座、通过调整上压片相对上压片固定座的位置或者更换上压片固定座即可以适用于不同的芯片。 | ||
搜索关键词: | 组件 芯片 测试 机构 一体机 | ||
【主权项】:
暂无信息
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