[发明专利]一种SOC芯片自动化QC方法及装置在审
| 申请号： | 202011057700.6 | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112034330A | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 梁永元;黄明强 | 申请（专利权）人： | 珠海市一微半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G05B19/042 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市横琴*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种SOC芯片自动化QC方法及装置，其中，所述装置包括QC母板，所述QC母板包括PMU电源、MCU主控制器、SOCKET座子、QC子板、组合开关、TEST按键、DEBUG按键、功能模块、结果显示模块；所述方法在所述装置上实现，包括如下内容：MCU主控制器通过SWD总线与待测SOC芯片连接，然后读取预先烧录在SOC芯片中的CHIPID；根据所述CHIPID，MCU主控制器按照设定的优先级顺序将需要的QC代码加载到待测SOC芯片中并控制其进行功能测试；如果测试通过，则结果显示模块显示PASS信息，如果测试不通过，则结果显示模块显示FAIL信息；当出现FAIL时，MCU主控制器还能够对待测SOC芯片进行DEBUG，以快速定位故障位置。本发明提出一种SOC芯片自动化QC方法及装置可以实现快速的SOC芯片自动化测试，有效地缩短测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 soc 芯片 自动化 qc 方法 装置 | ||
【主权项】：
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