[发明专利]一种等离子体风洞的等离子体参数测量方法在审

专利信息
申请号: 202011018627.1 申请日: 2020-09-24
公开(公告)号: CN112135408A 公开(公告)日: 2020-12-25
发明(设计)人: 白冰;丁亮;韩潇;张磊;赵华;李涛;彭毓川;顾志飞;李高;吴达 申请(专利权)人: 北京卫星环境工程研究所
主分类号: H05H1/00 分类号: H05H1/00;G01M9/06
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 成丹
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种基于等离子体风洞的等离子体参数测量方法,所述测量方法首先在等离子风洞输入层流等离子体前,通过矢量网络分析仪调整发射天线和接收天线同相位;输入等离子体后在发射天线与接收天线之间风洞中形成等离子体束流;测量等离子体束流的直径、接收天线与发射天线的相位差,并根据相位差及等离子体束流直径计算等离子体电子密度;再通过光谱仪测量等离子体粒子的特征谱线的偏移量,并根据偏移量计算等离子体的束流速度。本发明所测量的等离子体电子密度和束流速度测量误差小于0.01mm,相伴分辨率小于0.5°,综合误差小于0.16%,在不干扰等离子体束流的前提下,对等离子参数进行精确测量,提高了测量精度。
搜索关键词: 一种 等离子体 风洞 参数 测量方法
【主权项】:
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