[发明专利]天线阵测向方法、装置及电子设备在审

专利信息
申请号: 202010776680.1 申请日: 2020-08-05
公开(公告)号: CN111914506A 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 黄凯;尤明懿;叶云霞 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
主分类号: G06F30/367 分类号: G06F30/367;G06F30/17
代理公司: 北京市隆安律师事务所 11323 代理人: 权鲜枝;吴昊
地址: 314033 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本申请公开了一种天线阵测向方法、装置及电子设备。所述方法包括:基于仿生学构建耦合电路;获取天线阵在设置耦合电路的情况下输出的放大相位差,以及在未设置耦合电路的情况下输出的理论相位差;根据理论相位差和放大相位差确定与不同入射角相对应的相位差放大系数;在利用天线阵测向时,将耦合电路设置在天线阵的后端,获取天线阵测向所得的初始入射角,并基于所述初始入射角多次旋转天线阵,获取天线阵每次旋转后测向所得的入射角,在天线阵测向所得的入射角位于相位差放大系数最大时所对应的入射角的预设角度范围内时,得到测向结果。本申请实施例在保证测向精度的同时,还能够实现测向天线阵的小型化,较好的适用于小型化平台。
搜索关键词: 天线阵 测向 方法 装置 电子设备
【主权项】:
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