专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种产品综合维修方法和装置-CN201910181920.0有效
  • 尤明懿 - 中国电子科技集团公司第三十六研究所
  • 2019-03-11 - 2023-07-14 - G06F30/20
  • 本发明公开一种产品综合维修方法和装置。本发明的方法包括:根据同类产品的历史使用寿命数据估计产品的寿命分布函数和寿命估计函数的估计方差,并根据寿命分布函数获得产品的预防维修规划;获得产品衰退过程中的瞬时寿命分布函数、产品在各个状态监测时刻的预测寿命估计结果和产品衰退过程中基于各状态监测时刻的预测寿命估计结果的预测寿命分布函数;根据瞬时寿命分布函数和预测寿命分布函数获得产品的联合预测维修规划;构建产品的广义寿命模型有效性指标,在有效性指标不小于预设值时,根据预防维修规划进行产品维修,反之根据联合预测维修规划进行产品维修。本发明的技术方案能够获得更好的维修性能。
  • 一种产品综合维修方法装置
  • [发明专利]一种产品预测维修方法和装置-CN201910181921.5有效
  • 尤明懿 - 中国电子科技集团公司第三十六研究所
  • 2019-03-11 - 2023-07-14 - G06Q10/04
  • 本发明公开一种产品预测维修方法和装置。本发明的装置包括:模型构建单元、参数更新单元、第一类寿命分布计算单元、第二类寿命分布计算单元和预测维修单元;本发明的方法包括:构建产品的衰退过程模型;利用所述产品运行过程中多个状态监测时刻对应的状态监测数据,获得所述衰退速率变量的分布函数;利用更新后的所述随机线性衰退模型,获得产品衰退过程中的瞬时寿命分布函数;根据产品的瞬时寿命分布函数获得产品衰退过程中基于各状态监测时刻的预测寿命估计结果的预测寿命分布函数;根据所述瞬时寿命分布函数和所述预测寿命分布函数,获得所述产品的维修规划。本发明的技术方案能够获得更好的维修性能。
  • 一种产品预测维修方法装置
  • [发明专利]一种比幅比相测向方法和装置-CN201910145082.1有效
  • 尤明懿;陆安南;叶云霞 - 中国电子科技集团公司第三十六研究所
  • 2019-02-27 - 2023-06-02 - G01S3/36
  • 本发明公开一种比幅比相测向方法和装置。本发明的装置包括第一计算单元、第二计算单元、比幅测向单元、解模糊单元和联合估计单元;本发明的方法包括:利用预先构建的比幅比相二元测向线阵接收来波信号,获得比幅比相二元测向线阵接收来波信号的相位差和幅度差;根据相位差测量误差和幅度测量误差,获得相位差测量值和幅度差测量值;利用幅度差测量值估计来波信号的来波方向,获得来波信号的比幅测向结果;对相位差测量值进行解模糊处理,获得解模糊的相位差估计值;根据相位差估计值和幅度差测量值获得来波信号的来波方向,实现比幅比相测向。本发明的技术方案能够实现二元测向线阵的比福比相测向,且能够获得较高精度的测向结果。
  • 一种测向方法装置
  • [发明专利]一种测向方法、测向装置和测向系统-CN201910245683.X有效
  • 尤明懿;陆安南 - 中国电子科技集团公司第三十六研究所
  • 2019-03-28 - 2023-06-02 - G01S3/14
  • 本发明公开一种测向方法、测向装置和测向系统。本发明的测向系统包括:测向阵列、存储器和处理器;本发明的测向装置包括:接收单元、提取单元和测向单元;本发明的测向方法包括:获取接收信号,所述接收信号为利用测向阵列接收到的信号;提取所述接收信号的特征矢量,所述特征矢量为所述接收信号的协方差矩阵在其信号子空间的投影的归一化矢量;将所述特征矢量输入至预先训练好的支持向量机SVM模型,得到所述接收信号对应的辐射源类别,所述辐射源类别关联所述辐射源的方向。本发明的技术方案能够避免位置误差对测向阵列测向精度的影响,有效提高测向精度。
  • 一种测向方法装置系统
  • [发明专利]一种干涉仪测向方法、装置和系统-CN201910280063.X有效
  • 尤明懿;陆安南;黄凯 - 中国电子科技集团公司第三十六研究所
  • 2019-04-09 - 2023-06-02 - G01S3/12
  • 本发明公开一种干涉仪测向方法、装置和系统。本发明的方法包括:利用干涉仪接收信号,获得所述接收信号的各基线相位差的测量数据;根据所述各基线相位差的测量数据与预先构建的第一训练数据集,利用最小二乘法求解预先建立的来波方向估计模型,获得所述接收信号的来波方向第一估计结果;在第一估计结果符合预设条件时,将第一估计结果确定为接收信号的来波方向;在第一估计结果不符合预设条件时,将所述各基线相位差的测量数据作为预先训练好的支持向量机模型的输入,获得支持向量机模型输出的第二估计结果为接收信号的来波方向。本发明的技术方案能够有效提高测向性能。
  • 一种干涉仪测向方法装置系统
  • [发明专利]基于定向天线的L型直角阵列测向方法、装置和系统-CN201910265858.3有效
  • 尤明懿;陆安南 - 中国电子科技集团公司第三十六研究所
  • 2019-04-03 - 2023-05-09 - G01S3/48
  • 本发明公开一种基于定向天线的L型直角阵列测向方法、装置和系统。本发明的方法包括:构建接收信号方位角与俯仰角的角度估计模型;利用所述L型直角阵列分别进行比幅测向和比相测向,获得接收信号的相位差测量值和幅度差测量值,以及获得相位测量误差的方差和幅度测量误差的方差;将所述相位差测量值和幅度差测量值代入所述第一联合矩阵,以及将相位测量误差的方差和幅度测量误差的方差代入所述加权矩阵,根据最小二乘法求解所述角度估计模型的方位角参数与俯仰角参数,获得所述信号的方位角和俯仰角的估计值。本发明的技术方案同时使用比幅和比相测向信息进行测向达到提升测向精度的效果。
  • 基于定向天线直角阵列测向方法装置系统
  • [发明专利]一种基于三阵元L型直角阵干涉仪测向方法和装置-CN201910149406.9有效
  • 陆安南;尤明懿;叶云霞 - 中国电子科技集团公司第三十六研究所
  • 2019-02-28 - 2023-04-14 - G01S3/48
  • 本发明公开一种基于三阵元L型直角阵干涉仪测向方法和装置。本发明的装置包括角度计算单元、测量值获取单元、函数获取单元和信号方向确定单元;本发明的方法包括:利用三阵元L型直角阵模型,获得三条测向基线处的相位差计算值;利用三阵元L型直角阵干涉仪接收辐射源发出的信号,获得三条测向基线的相位差测量值;根据相位差计算值、相位差测量值和三条测向基线的相位差测量误差三者之间的关系,获得关于方位角变量和仰角变量的目标函数;对目标函数进行广义最小二乘处理,获得方位角变量和仰角变量的最优估计值,根据最优估计值获得信号的方向。本发明的技术方案能够显著减少直角阵干涉仪测向系统的测向误差,提高测向精度。
  • 一种基于三阵元直角干涉仪测向方法装置
  • [发明专利]一种均匀圆阵双通道干涉仪测向方法、装置和系统-CN201910288928.7有效
  • 尤明懿;陆安南 - 中国电子科技集团公司第三十六研究所
  • 2019-04-11 - 2023-03-10 - G01S3/48
  • 本发明公开一种均匀圆阵双通道干涉仪测向方法、装置和系统。本发明的方法包括:获取预先建立的角度估计模型,以及获取均匀圆阵双通道干涉仪测向误差与基线选取之间的关系;根据关系获得使测向误差最小的优选基线,利用优选基线对信号进行双通道分时测向,获得信号的相位差测量值;将相位差测量值代入角度估计模型后,利用最小二乘法求解角度估计模型,获得角度估计模型中方位角参数和俯仰角参数的估计值。本发明分析任意单元均匀圆阵双通道干涉仪测向系统测向误差与测向基线选择之间的关系,基于该关系获取使测向误差最小的优选基线,并利用优选基线进行双通道分时测向,以达到充分发挥测向系统效用的目的。
  • 一种均匀双通道干涉仪测向方法装置系统
  • [发明专利]一种单基线干涉仪测向方法和装置-CN201910156170.1有效
  • 尤明懿;陆安南;叶云霞 - 中国电子科技集团公司第三十六研究所
  • 2019-03-01 - 2023-02-28 - G01S3/48
  • 本发明公开一种单基线干涉仪测向方法和装置。本发明的装置包括频谱分析单元、第一计算单元、第二计算单元和估计与测向单元;本发明的方法包括:对单基线干涉仪接收到的信号进行处理,获得信号的频谱;根据信号的频谱获得参与时差估计的每根谱线的信噪比和相位差测量结果;根据预先获得谱线信噪比与谱线权重系数的对应关系,获得参与时差估计的每根谱线的权重系数;根据参与时差估计的每根谱线的权重系数、相位差测量结果和信号的角频率,利用预先建立的时差估计模型,获得信号的时差估计值,以根据时差估计值获得信号的方向。本发明的技术方案能够有效提高测向精度。
  • 一种基线干涉仪测向方法装置

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