[发明专利]一种面板缺陷检测方法、存储介质及终端设备在审

专利信息
申请号: 202010706481.3 申请日: 2020-07-21
公开(公告)号: CN113971648A 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 魏涛;王树朋;党晚婷;王俊卜;刘阳兴 申请(专利权)人: 武汉TCL集团工业研究院有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62;G06T7/73;G06V10/762;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 温宏梅
地址: 430000 湖北省武汉市东湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种面板缺陷检测方法、存储介质以及终端设备,所述方法应用于缺陷检测模型,所述缺陷检测模型基于待检测的面板图像,确定所述面板图像对应的若干目标特征图,所述缺陷检测模型基于所述若干目标特征图,确定所述面板图像对应的面板缺陷区域。本申请通过缺陷检测单元确定待检测的面板图像对应的若干目标特征图,并且若干目标特征图中的每个目标特征图均携带缺陷区域,并且各目标特征图中的缺陷区域的区域大小互不相同,这样基于各目标特征图各自对应的缺陷候选区域可以得到面板图像中不同尺寸的面板缺陷区域,从而提高了面板缺陷检测的准确性,从而提高了显示面板的质量。
搜索关键词: 一种 面板 缺陷 检测 方法 存储 介质 终端设备
【主权项】:
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