[发明专利]内存读写测试方法、装置以及存储介质在审
| 申请号： | 202010552743.5 | 申请日： | 2020-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN113806149A | 公开（公告）日： | 2021-12-17 |
| 发明（设计）人： | 郑文武;李先绪;邱红飞;黄植勤;黄春光;朱海云;王海霞 | 申请（专利权）人： | 中国电信股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 方亮 |
| 地址： | 100033 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种内存读写测试方法、装置以及存储介质，涉及计算机技术领域，其中的方法包括：根据被测试内存块的大小在第一类内存中获取基准内存块，判断对于被测试内存块进行读或写操作的测试时间是否大于对于基准内存块进行读或写操作的基准时间；如果是，则确定对于被测试内存块进行读或写操作使用的内存为第二类内存，如果否，则确定对于被测试内存块进行读或写操作的内存为第一类内存；第一类内存的读或写的速度高于第二类内存的读或写的速度。本公开的方法、装置以及存储介质，能够解决由于时钟精度的限制，无法通过测量单次内存读写的时间判断所读写的内存类型的问题，可以对不同内存的读写总比例进行统计、分析，精确定位性能瓶颈。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 读写 测试 方法 装置 以及 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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