[发明专利]一种提高孔结构参数测定准确性的方法有效
| 申请号： | 202010521812.6 | 申请日： | 2020-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN111664825B | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 刘忠军;赵明慧;姬帅 | 申请（专利权）人： | 西安石油大学;江苏云才材料有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/14 | 分类号： | G01B21/14;G01N15/08 |
| 代理公司： | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人： | 马晓敏 |
| 地址： | 710000 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种提高孔结构参数测定准确性的方法，该方法适用于纳米多孔材料孔径及比表面积参数测定领域。该方法具体包括以下步骤：使用比表面积及孔径分析仪测试待测材料样品的吸附‑脱附曲线。根据测试数据得到待测材料的孔径尺寸范围数据；利用巨正则系综(GCMC)分子模拟系统，选定待测材料孔径范围内的具体数值，搭建模拟计算结构模型，通过不断增加或降低主体流体的化学势得到纳米孔内流体稳定态和亚稳态组成的吸附滞后环；在吸附滞后环内一给定吸附压力位置，再选择一个具有中间状态的颗粒系统，该方法所涉及的模拟计算可以镶嵌到测试仪器的分析软件中，操作简单，可有效提高纳米多孔材料孔径及比表面积的检测结果准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 结构 参数 测定 准确性 方法 | ||
【主权项】：
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