[发明专利]一种用于美学质量评价的构图表征学习方法有效
| 申请号： | 202010214893.5 | 申请日： | 2020-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN111507941B | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 俞俊;高飞;尚梅梅 | 申请（专利权）人： | 杭州电子科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06N3/0464;G06N3/048;G06N3/08 |
| 代理公司： | 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人： | 朱月芬 |
| 地址： | 310018 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于美学质量评价的构图表征学习方法。本发明步骤如下：步骤(1)数据预处理，将所有数据集的图片经过调整尺寸和裁剪的操作缩放到统一大小；步骤(2)特征提取及全连接图构建，分别对两个预训练的Moblinet v2进行微调构成全局特征提取网络和构图特征提取网络，分别用来提取全局特征和构图特征；利用提取出来的构图特征构建全连接图；步骤(3)全局特征与构图特征相融合，将提取出来的全局特征与构图特征输入门控单元进行特征融合，获取融合特征；步骤(4)美学分数预测以及准确率度量。本发明提出了利用构图特征构建全连接图并与全局特征融合，而且获得了目前图片美学质量评价中的最好效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 美学 质量 评价 构图 表征 学习方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州电子科技大学，未经杭州电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010214893.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
