[发明专利]基于半导体市场数据的电子元器件生命周期预测方法

摘要

本发明涉及一种基于半导体市场数据的电子元器件生命周期预测方法，包括：步骤S1、获取多种器件在多种分销渠道不同时间点上的库存、交期、出货量、价格、生命周期状态数据；步骤S2、依据元器件生产流通的规律，制定不同的策略对数据进行识别、清洗、转化；步骤S3、进一步将离散的特征数据滤波、拟合、逼近，将每个节点的库存、交期、出货量、价格转化为反映这些特征值在此时间点的变化率指数数据；步骤S4、基于C4.5决策树算法，用半年的历史数据训练预测模型，定期将采集到的器件流通数据输入模型得出生命周期预测结果，从而对处于生命周期末端的器件及时给出预警。与现有技术相比，本发明具有定制性强，在电子设计领域具有较高的实用价值等优点。