[发明专利]一种芯片测试结果的分析方法、系统及装置在审
申请号: | 202010171661.6 | 申请日: | 2020-03-12 |
公开(公告)号: | CN111414287A | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 张晓晖 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G01R31/317 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 侯珊 |
地址: | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种芯片测试结果的分析方法、系统及装置,预先将用于在芯片测试Fail时生成测试日志的逻辑程序,写入芯片的任一测试项目的测试脚本中;在执行测试脚本后得到Fail测试结果时,从测试日志中自动提取出Fail信息;将Fail信息与预设Fail数据库自动进行筛选匹配,以确定Fail信息对应的目标bug ID;根据目标bug ID从bug管理系统中查找到Fail信息对应的目标bug及其bug原因。可见,本申请可自动对芯片Fail测试结果进行分析,得到其Fail对应的可供在bug管理系统中查找Fail原因的bug ID,从而得到芯片Fail原因,省时省力,且分析结果更为准确。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 测试 结果 分析 方法 系统 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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