[发明专利]质量分离器有效
申请号: | 202010166744.6 | 申请日: | 2020-03-11 |
公开(公告)号: | CN111755301B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 高嶋大树;西村一平 | 申请(专利权)人: | 日新离子机器株式会社 |
主分类号: | H01J37/05 | 分类号: | H01J37/05;H01J37/30;H01J37/32 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种质量分离器,课题在于可在不使作业变得繁重下进行束路径的清扫等维护。本发明为一种对离子束(IB)进行质量分离的质量分离器(100),该质量分离器具备:移动机构(30),用以使属于包围束路径(L)的由磁性体所构成的磁轭(13)的构成要素的位于束路径(L)的上方、下方或侧方的上部磁轭(13a)、下部磁轭(13b)或侧方磁轭(13c、d)的至少任一者,于离子束(IB)的行进中的通常位置(P)与不和通常位置(P)的至少一部分重叠的退避位置(Q)之间移动。 | ||
搜索关键词: | 质量 分离器 | ||
【主权项】:
暂无信息
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